【覓跡尋蹤潛力股】統新光訊(Apogee Optocom)量測系列= 白光干涉儀、分光光度計(Cary7000)、傅立葉轉換紅外線光譜儀(FTIR)、薄膜分析儀(ACMS)等用途是甚麼 ? 以及市場需求趨勢如何 ?

《覓跡尋蹤潛力股"統新"系列》統新光訊(Apogee Optocom)量測系列)= 白光干涉儀、分光光度計(Cary7000)、傅立葉轉換紅外線光譜儀(FTIR)、薄膜分析儀(ACMS)等用途是甚麼 ? 以及市場需求趨勢如何 ? 統新光訊提供多種光學量測設備，適用於光學鍍膜、材料分析、生物醫學與環境監測等領域。以下是各類設備的用途與市場需求：⓵ 白光干涉儀(White Light Interferometry, WLI)用途=用於高精度表面測量，如半導體晶圓、PCB、光學薄膜等。適合測量高反射與透明表面，如光學鍍膜與微結構分析。在半導體製造中，白光干涉儀(WLI)主要用於：晶圓表面形貌分析 - 測試晶圓表面的平坦度與粗糙度，以提升製程精度。光刻技術監控 - 分析光阻層的厚度與均勻性，確保曝光與蝕刻過程的穩定性。MEMS與微機電系統測試 - 測量微機電元件的結構與形貌，支持高精度製造。市場需求趨勢：半導體、材料科學與生物醫學領域對高精度測量技術需求增加。⓶ 分光光度計(Cary7000)用途=用於光學鍍膜、薄膜分析與材料特性測試。可測量光學元件的反射率與透射率，適用於光學濾波器與雷射系統。包括：可見光光譜測量 - 分析材料的光學特性。8吋晶圓映射測試 - 適用於半導體製造中的光學特性檢測。在半導體製造中，分光光度計(Cary7000)主要用於：薄膜濾光片(TFF)測試 - 確保光學元件的品質。高密度分波多工器(DWDM)元件檢測 - 提升光通訊技術的精度。市場需求趨勢：主要應用於光學元件製造、半導體與光電設備領域。高通量光學元件製造需求推動市場成長。⓷ 傅立葉轉換紅外線光譜儀(FTIR)用途=用於化學分析、生物醫學檢測與環境監測。可測量材料的紅外光譜特性，適用於氣體分析與分子結構研究。在半導體製造中，傅立葉轉換紅外線光譜儀(FTIR)主要用於：薄膜與光阻層分析 - 測試光阻層與鍍膜的化學組成，確保光刻技術的精度。晶圓表面污染檢測 - 分析晶圓表面的有機污染物，以提升製程穩定性。化學機械研磨(CMP)製程監控 - 測試研磨液與殘留物的化學特性，確保晶圓表面品質。市場需求趨勢：環境監測與生物醫學領域需求增加，推動市場成長。企業與研究機構對高精度光譜分析設備需求上升。⓸ 薄膜分析儀(ACMS)用途=主要用於光學鍍膜與薄膜濾光片(TFF)的測試與分析，應用包括：光學薄膜品質檢測：測量薄膜的光譜特性，確保其在光學與通訊設備中的性能穩定。高密度分波多工器(DWDM)元件測試：分析濾光片的透射率與反射率，以提升光通訊技術的精度。在半導體製造中，薄膜分析儀(ACMS)主要用於：晶圓光學特性分析：測試晶圓表面的光學均勻性，確保製程穩定。光阻層與鍍膜品質檢測：分析光阻層的光學吸收與反射特性，以提升光刻技術的精度。這項技術在半導體製造中的應用越來越廣泛，隨著市場回暖，對高精度光學測量設備的需求也將持續增長。市場需求趨勢：光學鍍膜技術發展推動市場需求，特別是在精密光學與雷射應用領域。AI與高速光通訊技術發展促使光學薄膜技術需求增加。統新光訊這些量測設備在光學、半導體、生物醫學與環境監測領域發揮關鍵作用，市場需求持續增長。關於統新 http://www.nextapogee.com.tw/ch/about.php 主要產品為光通訊主動元件使用之薄膜濾光片、光通訊被動元件使用之薄膜濾光片，以及光通訊應用矽光子(Silicon Photonics)、光學共同封裝(Co-packaged optics)與IC封裝用PCB玻璃載板等相關元件薄膜製程。以及應用於生物醫學傳感與檢測(Biomedical Sensing and Detection)、LiDAR雷射探測與測距(Light Detection And Ranging)、環境化學和分子種類檢測、影像感測所需的UV、VIS、NIR、MIR、FIR鍍膜產品。後續值得覓跡尋蹤留意。PS特別提醒:本分享文僅供參考，不具投資建議，請自行判斷買賣時機與承擔風險，並自負盈虧。